? 動態(tài)微光顯微鏡分析
動態(tài)微光顯微鏡分析（Dynamic EMMI）是透過外部測試平臺或其他應用板提供信號驅(qū)使IC進到漏電狀態(tài)，再藉由微光顯微鏡偵測漏電地方。其應用在當IC之漏電非一般靜態(tài)偏壓可以產(chǎn)生，需要給予動態(tài)信號后才能觀測到的漏電現(xiàn)象。
CTI華測檢測以專業(yè)、高效、準確的服務，為客戶提供高質(zhì)量的動態(tài)微光顯微鏡分析服務。我們將以客戶需求為導向，不斷提升服務質(zhì)量和技術水平，為客戶在科學研究、產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制等領域提供有力的支持。
? 服務案例
? 服務優(yōu)勢
先進設備：擁有高性能的動態(tài)微光顯微鏡設備，具備高靈敏度和高分辨率的成像能力。
專業(yè)技術團隊：我們的技術團隊具備豐富的動態(tài)微光顯微鏡分析經(jīng)驗和專業(yè)知識，能夠為客戶提供高質(zhì)量的服務。
定制化服務：我們提供個性化的服務方案，根據(jù)客戶需求進行定制化的樣品準備、分析方法和數(shù)據(jù)處理。
? 服務流程
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