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雷射光阻值變化偵測(cè) (OBIRCH)

CTI華測(cè)檢測(cè)雷射光阻值變化偵測(cè)（OBIRCH）服務(wù)是一種高效、精準(zhǔn)的集成電路檢測(cè)技術(shù)，我們致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)，助力客戶在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中取得優(yōu)勢(shì)。

? 雷射光阻值變化偵測(cè)(OBIRCH)

　　雷射光阻值變化偵測(cè)（OBIRCH）服務(wù)是一種先進(jìn)的非接觸式檢測(cè)技術(shù)，它通過(guò)精確控制激光束在半導(dǎo)體器件或集成電路上的照射，以誘發(fā)器件內(nèi)部的溫度變化，并進(jìn)而觀測(cè)因溫度變化而導(dǎo)致的電阻值變化。這種技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電路內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)故障的快速、精準(zhǔn)定位，為集成電路的質(zhì)量控制和故障分析提供有力支持。

　　我們的OBIRCH服務(wù)具備高靈敏度、高精度和多功能應(yīng)用的特點(diǎn)。通過(guò)精確控制激光束的功率和照射位置，我們能夠檢測(cè)到微小的阻值變化，從而發(fā)現(xiàn)電路中的潛在問(wèn)題。此外，OBIRCH技術(shù)還能夠適用于不同類型的集成電路和芯片檢測(cè)，滿足不同客戶的多樣化需求。

? 應(yīng)用場(chǎng)景

　　Silicon base操作
　　閘極氧化層漏電
　　Short異常分析
　　金屬線缺陷/導(dǎo)通孔/接觸孔等阻值異常分析

? 服務(wù)優(yōu)勢(shì)

? 服務(wù)流程

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