?      熱輻射故障定位顯微鏡(Thermal EMMI）

　　熱輻射故障定位顯微鏡（Thermal EMMI）是一種基于熱成像技術(shù)的故障檢測(cè)設(shè)備，能夠非接觸、無(wú)損傷地檢測(cè)電子元器件在運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的熱輻射變化，從而精準(zhǔn)定位故障點(diǎn)。該設(shè)備在半導(dǎo)體芯片、集成電路、封裝器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，為質(zhì)量控制、故障分析和研發(fā)測(cè)試提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。

?      應(yīng)用場(chǎng)景

• 　　IC封裝及IC內(nèi)部短路分析
• 　　低阻抗分析(<10 ohm)
• 　　非破壞性檢測(cè)(IC可不開(kāi)蓋)
• 　　PCB/模塊的金屬線(xiàn)路缺陷
• 　　TFT-LCD漏電/有機(jī)EL漏電定位
• 　　新制程開(kāi)發(fā)階段device內(nèi)部異常發(fā)熱的觀測(cè)

?      服務(wù)設(shè)備

?      服務(wù)優(yōu)勢(shì)

　　專(zhuān)業(yè)設(shè)備：我們擁有先進(jìn)的熱輻射故障定位顯微鏡設(shè)備，能夠滿(mǎn)足不同領(lǐng)域和場(chǎng)景的檢測(cè)需求。

　　豐富經(jīng)驗(yàn)：我們的技術(shù)團(tuán)隊(duì)具備豐富的熱輻射檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，能夠?yàn)榭蛻?hù)提供專(zhuān)業(yè)的技術(shù)支持和解決方案。

　　定制化服務(wù)：我們提供定制化服務(wù)，根據(jù)客戶(hù)需求進(jìn)行針對(duì)性的檢測(cè)方案設(shè)計(jì)和實(shí)施，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

　　全面報(bào)告：檢測(cè)完成后，我們將提供詳細(xì)的檢測(cè)報(bào)告，包括熱輻射圖像、故障點(diǎn)位置、溫度分布等信息，幫助客戶(hù)全面了解電子元器件的工作狀態(tài)和故障情況。

?      服務(wù)流程