? 熱輻射故障定位顯微鏡(Thermal EMMI）
熱輻射故障定位顯微鏡（Thermal EMMI）是一種基于熱成像技術的故障檢測設備，能夠非接觸、無損傷地檢測電子元器件在運行時產生的熱輻射變化，從而精準定位故障點。該設備在半導體芯片、集成電路、封裝器件等領域具有廣泛的應用，為質量控制、故障分析和研發(fā)測試提供了強有力的技術支持。
? 應用場景
? 服務設備
? 服務優(yōu)勢
專業(yè)設備：我們擁有先進的熱輻射故障定位顯微鏡設備，能夠滿足不同領域和場景的檢測需求。
豐富經驗：我們的技術團隊具備豐富的熱輻射檢測經驗，能夠為客戶提供專業(yè)的技術支持和解決方案。
定制化服務：我們提供定制化服務，根據客戶需求進行針對性的檢測方案設計和實施，確保檢測結果的準確性和可靠性。
全面報告：檢測完成后，我們將提供詳細的檢測報告，包括熱輻射圖像、故障點位置、溫度分布等信息，幫助客戶全面了解電子元器件的工作狀態(tài)和故障情況。
? 服務流程
粵公網安備 44030602000441號