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    1. 我們的服務(wù)

      作為中國(guó)第三方檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)的開(kāi)拓者和領(lǐng)先者,CTI華測(cè)檢測(cè)為全球客戶提供一站式檢驗(yàn)、測(cè)試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。

      行業(yè)解決方案

      服務(wù)能力已全面覆蓋到紡織服裝及鞋包、嬰童玩具及家居生活、電子電器、醫(yī)學(xué)健康、食品及農(nóng)產(chǎn)品……等行業(yè)的供應(yīng)鏈上下游。

      特色服務(wù)

      全面保障品質(zhì)與安全,推動(dòng)合規(guī)與創(chuàng)新,彰顯品牌競(jìng)爭(zhēng)力,實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量、更健康、更安全、更綠色的可持續(xù)發(fā)展。

      權(quán)威公正 傳遞信任
      彰顯品質(zhì) 創(chuàng)造價(jià)值
      芯片化學(xué)開(kāi)蓋分析 (Decap)

      CTI華測(cè)檢測(cè)已通過(guò)CNAS/ISO17025/ISO9001資質(zhì)認(rèn)可,擁有完善的芯片、半導(dǎo)體器件失效分析工具,可為您提供完善的開(kāi)封及失效分析服務(wù),測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠,完備的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng),保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效、保密運(yùn)轉(zhuǎn)。

      芯片化學(xué)開(kāi)蓋分析 (Decap)

      ?      什么是Decap開(kāi)蓋


        開(kāi)蓋試驗(yàn)又稱開(kāi)封或者開(kāi)帽,是芯片及半導(dǎo)體器件常用的一種失效分析檢測(cè)方法。芯片或半導(dǎo)體器件失效分析時(shí)需分析內(nèi)部的芯片、打線、組件時(shí),因封裝膠體阻擋觀察,利用激光蝕刻及化學(xué)蝕刻兩種搭配使用,開(kāi)蓋、去膠,使封裝體內(nèi)包覆的對(duì)象裸露出來(lái),以便后續(xù)相關(guān)實(shí)驗(yàn)處理、觀察。

       

      ?      如何進(jìn)行芯片開(kāi)封


        芯片開(kāi)封目前主要采用的方法為激光鐳射(Laser)開(kāi)封和化學(xué)(Chemistry)腐蝕。


        ▌激光開(kāi)封


        激光開(kāi)封主要利用機(jī)臺(tái)發(fā)射激光束于芯片塑封表面,通過(guò)氣化作用去除器件填充料。此方法具有速度快、操作簡(jiǎn)便且無(wú)危險(xiǎn)性的特點(diǎn)。


        ▌化學(xué)腐蝕


        化學(xué)腐蝕方法主要使用某些化學(xué)試劑,如濃硫酸、鹽酸、發(fā)煙硝酸、氫氟酸等。尤其是98%的濃硫酸,在此方法中用于腐蝕易溶于丙酮的低分子化合物。在超聲的作用下,這些低分子化合物被清洗掉,從而暴露出芯片晶圓表層,從而達(dá)到觀察分析效果。

       

      ?      芯片開(kāi)封有什么作用


        芯片開(kāi)封是失效分析測(cè)試中常用的技術(shù),主要用于檢測(cè)和解決制造過(guò)程中的問(wèn)題。在失效分析過(guò)程中,芯片開(kāi)封是關(guān)鍵步驟之一,通過(guò)開(kāi)封可以暴露出芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu),供失效分析人員通過(guò)肉眼或高倍率顯微鏡進(jìn)行觀察和分析。然而,開(kāi)封過(guò)程中也可能引入物理?yè)p傷、外來(lái)污染等外來(lái)因素,需要進(jìn)一步進(jìn)行失效分析。


        芯片開(kāi)封的主要作用體現(xiàn)在以下4個(gè)方面:


        ▌失效模式分析


        芯片開(kāi)封后,可以對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行詳細(xì)的電性測(cè)試和物理測(cè)量,以確定芯片失效的具體模式和機(jī)制。這些測(cè)試包括測(cè)量電壓、電流、功率消耗等參數(shù),從而全面評(píng)估芯片的電性能。通過(guò)深入分析失效模式,能夠了解芯片設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中可能存在的潛在問(wèn)題,并為改進(jìn)提供有價(jià)值的建議。


        ▌故障定位


        通過(guò)開(kāi)封,可以暴露出芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu),使得技術(shù)人員能夠直接觀察和分析芯片的各種元件和連接,這對(duì)于準(zhǔn)確判斷故障點(diǎn)非常關(guān)鍵。為了實(shí)現(xiàn)這一目的,開(kāi)封過(guò)程中采用了激光鐳射和化學(xué)腐蝕等方法來(lái)移除封裝材料和封裝層,從而精準(zhǔn)地確定故障的位置和性質(zhì)。


        ▌化學(xué)分析


        芯片開(kāi)封是進(jìn)行化學(xué)分析的重要手段,能夠確定芯片材料的組成和元素分布。這種分析對(duì)于檢測(cè)潛在的材料缺陷、污染物以及由不良封裝或封裝材料引發(fā)的問(wèn)題非常重要。通過(guò)化學(xué)分析,我們能夠精確識(shí)別與材料相關(guān)的故障原因,從而采取針對(duì)性的措施來(lái)優(yōu)化芯片制造過(guò)程。


        ▌封裝驗(yàn)證


        芯片開(kāi)封是對(duì)封裝質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估的重要環(huán)節(jié)。通過(guò)仔細(xì)觀察封裝焊點(diǎn)、打線連接以及封裝缺陷等細(xì)節(jié),可以全面檢查封裝工藝是否符合預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)和要求。這一評(píng)估過(guò)程有助于確保封裝的完整性和可靠性,從而防止因封裝質(zhì)量不良導(dǎo)致的芯片失效。


        芯片開(kāi)封在失效分析中發(fā)揮著重要的作用。它不僅涉及失效模式分析和故障定位,還包括化學(xué)分析以及封裝驗(yàn)證等多個(gè)方面。通過(guò)芯片開(kāi)封,我們能夠獲取關(guān)于芯片內(nèi)部器件和結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵信息,從而準(zhǔn)確診斷芯片故障的原因。此外,這些信息還為改進(jìn)芯片制造過(guò)程、提高芯片可靠性和質(zhì)量提供了有力的支持。

       

      ?      服務(wù)優(yōu)勢(shì)

       

       

      ?      服務(wù)流程

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