DALS芯片服務(wù)項(xiàng)目廣泛應(yīng)用于新芯片設(shè)計(jì)的偵錯(cuò)、除錯(cuò)和驗(yàn)證改版等領(lǐng)域，特別是在IC設(shè)計(jì)復(fù)雜度增加和制程演進(jìn)的情況下，DALS技術(shù)能夠發(fā)揮更大的作用。通過DALS技術(shù)，客戶可以快速地解決芯片設(shè)計(jì)中的問題，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。作為業(yè)界領(lǐng)先的第三方芯片半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室，CTI華測(cè)檢測(cè)擁有先進(jìn)的DALS設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的服務(wù)。

CTI華測(cè)檢測(cè)以專業(yè)、高效、準(zhǔn)確的服務(wù)，為客戶提供高質(zhì)量的動(dòng)態(tài)微光顯微鏡分析服務(wù)。我們將以客戶需求為導(dǎo)向，不斷提升服務(wù)質(zhì)量和技術(shù)水平，為客戶在科學(xué)研究、產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域提供有力的支持。

CTI華測(cè)檢測(cè)可提供先進(jìn)的掃描式電子顯微鏡（SEM）與能量色散光譜儀（EDS）分析技術(shù)，旨在為客戶提供材料表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)以及化學(xué)成分的綜合分析。通過SEM的高分辨率成像和EDS的元素分析功能，我們能夠揭示材料的微觀世界，為科研、工業(yè)檢測(cè)、產(chǎn)品開發(fā)等領(lǐng)域提供強(qiáng)有力的技術(shù)支持。

CTI華測(cè)檢測(cè)以優(yōu)質(zhì)的服務(wù)、先進(jìn)的技術(shù)為客戶提供離子束截面研磨/拋光分析服務(wù)（CP），幫助客戶解決科研和產(chǎn)品開發(fā)中的難題，推動(dòng)科技進(jìn)步和社會(huì)發(fā)展。

芯片去層（Delayer）服務(wù)是一種在半導(dǎo)體行業(yè)中非常重要的技術(shù)服務(wù)，它可以幫助研究人員深入了解芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和性能，并為產(chǎn)品改進(jìn)提供有力支持。CTI華測(cè)檢測(cè)可幫助客戶深入了解芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和性能，并為產(chǎn)品改進(jìn)提供有力支持。

CTI華測(cè)檢測(cè)已通過CNAS/ISO17025/ISO9001資質(zhì)認(rèn)可，擁有完善的芯片、半導(dǎo)體器件失效分析工具，可為您提供完善的開封及失效分析服務(wù)，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，完備的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效、保密運(yùn)轉(zhuǎn)。

熱輻射故障定位顯微鏡（Thermal EMMI）是一種基于熱成像技術(shù)的故障檢測(cè)設(shè)備，能夠非接觸、無損傷地檢測(cè)電子元器件在運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的熱輻射變化，從而精準(zhǔn)定位故障點(diǎn)。該設(shè)備在半導(dǎo)體芯片、集成電路、封裝器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，為質(zhì)量控制、故障分析和研發(fā)測(cè)試提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。CTI華測(cè)檢測(cè)憑借專業(yè)的設(shè)備、豐富的經(jīng)驗(yàn)和定制化的服務(wù)，為客戶提供全面、精準(zhǔn)的故障檢測(cè)服務(wù)，幫助客戶提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力。

CTI華測(cè)檢測(cè)雷射光阻值變化偵測(cè)（OBIRCH）服務(wù)是一種高效、精準(zhǔn)的集成電路檢測(cè)技術(shù)，我們致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)，助力客戶在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中取得優(yōu)勢(shì)。

砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)其原理是偵測(cè)電子-電洞結(jié)合與熱載子所激發(fā)出的光子，與過往的微光顯微鏡(EMMI)原理相同，世代演進(jìn)后使用新的偵測(cè)器材料(InGaAs)，讓可偵測(cè)波長(zhǎng)范圍和所激發(fā)出光子的波長(zhǎng)范圍更為相配，且與目前主流的背向(透過Si)偵測(cè)方式所處波長(zhǎng)范圍更匹配，因此砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)可大大提高偵測(cè)效能。CTI華測(cè)檢測(cè)提供個(gè)性化的砷化鎵銦微光顯微鏡服務(wù)，根據(jù)您的具體研究需求，為您量身定制解決方案。