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    1. 我們的服務(wù)

      作為中國(guó)第三方檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)的開拓者和領(lǐng)先者,CTI華測(cè)檢測(cè)為全球客戶提供一站式檢驗(yàn)、測(cè)試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。

      行業(yè)解決方案

      服務(wù)能力已全面覆蓋到紡織服裝及鞋包、嬰童玩具及家居生活、電子電器、醫(yī)學(xué)健康、食品及農(nóng)產(chǎn)品……等行業(yè)的供應(yīng)鏈上下游。

      特色服務(wù)

      全面保障品質(zhì)與安全,推動(dòng)合規(guī)與創(chuàng)新,彰顯品牌競(jìng)爭(zhēng)力,實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量、更健康、更安全、更綠色的可持續(xù)發(fā)展。

      權(quán)威公正 傳遞信任
      彰顯品質(zhì) 創(chuàng)造價(jià)值
      汽車芯片電子可靠性試驗(yàn)

      車用電子協(xié)會(huì)(AEC,Automotive Electronics Council)為了讓電子組件的驗(yàn)證有一個(gè)共同的參考驗(yàn)證內(nèi)容,因此根據(jù)產(chǎn)品類別陸續(xù)制定了不同驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn),讓各家電子組件廠商欲進(jìn)入車用市場(chǎng)時(shí),有一個(gè)適當(dāng)?shù)尿?yàn)證基礎(chǔ)。CTI華測(cè)檢測(cè)可您提供汽車芯片電子可靠性試驗(yàn),包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個(gè)系列的測(cè)試認(rèn)證服務(wù)。

      汽車芯片電子可靠性試驗(yàn)

      ?      服務(wù)背景

        車用電子協(xié)會(huì)(AEC,Automotive Electronics Council)為了讓電子組件的驗(yàn)證有一個(gè)共同的參考驗(yàn)證內(nèi)容,因此根據(jù)產(chǎn)品類別陸續(xù)制定了不同驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn),讓各家電子組件廠商欲進(jìn)入車用市場(chǎng)時(shí),有一個(gè)適當(dāng)?shù)尿?yàn)證基礎(chǔ)。


        在AEC的相關(guān)規(guī)范中,明確定義,沒有所謂的認(rèn)證(Certification)的機(jī)制,強(qiáng)調(diào)是屬于自我宣告以及買賣雙方的合約,強(qiáng)調(diào)產(chǎn)品家族觀念,并且重視制程質(zhì)量管控(SPC)的要求,標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格更甚于傳統(tǒng)以JEDEC為驗(yàn)證主軸的消費(fèi)型產(chǎn)品市場(chǎng)。

       

      ?      汽車芯片電子可靠性試驗(yàn)

        ▌AEC驗(yàn)證分類


        1.AEC-Q系列驗(yàn)證分類


        根據(jù)零件群組類別進(jìn)行區(qū)分。其中AEC-Q103為2019年度新公告針對(duì)MEMS相關(guān)產(chǎn)品之測(cè)試應(yīng)用,使得整體應(yīng)用上更為完整。

      AEC-Q系列車用電子產(chǎn)品驗(yàn)證 AEC-Q100 Integrated Circuit
      AEC-Q101 Discrete Semiconductors
      AEC-Q102 Photo-electronics
      AEC-Q103 MEMS
      AEC-Q104 MCM
      AEC-Q200 Passive Components

       


        2.產(chǎn)品耐溫等級(jí)


        根據(jù)零件在車輛使用的位置區(qū)分為四個(gè)等級(jí),與傳統(tǒng)使用的JEDEC 47不同處在于,AEC定義為測(cè)試環(huán)境溫度Ta,非Tj,因此相對(duì)嚴(yán)苛,也使得欲進(jìn)行驗(yàn)證之廠家多了一些難度與門坎。

      Grade Ambient Operation Temperature Range
      0 -40°C to +150°C
      1 -40°C to +125°C
      2 -40°C to +105°C
      3 -40°C to +85°C


        ▌ AEC-Q系列與JEDEC 47的比較  

      Description JEDEC 47 AEC Q100
      Test items 以試驗(yàn)項(xiàng)目為主 自開發(fā)至試驗(yàn)
      Test sample size 相對(duì)較少 相對(duì)較多
      Test duration / cycles 較短 較長(zhǎng)(以使用壽命回推)
      Temperature 采用產(chǎn)品Tj 采用環(huán)境Ta
      Data collection 以承認(rèn)為主 自產(chǎn)品開發(fā)開始
      Family application 有定義 定義含括范圍
      Engineering change 明確定義 明確定義
      Life prediction 說(shuō)明較簡(jiǎn)易 明確定計(jì)算方式
      SPC calculation 較少 強(qiáng)調(diào)應(yīng)用
      Pb-Free consideration 較少 納入驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)
      DPA process 未提及 納入驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)
      Criteria 較簡(jiǎn)易 允收規(guī)格明確

       

      ?      服務(wù)優(yōu)勢(shì)

      CTI華測(cè)檢測(cè)著重于半導(dǎo)體產(chǎn)品領(lǐng)域驗(yàn)證,結(jié)合失效分析、ESD靜電測(cè)試、硬件設(shè)計(jì)服務(wù)、可靠性試驗(yàn)等,形成一個(gè)完整的服務(wù)網(wǎng)絡(luò),協(xié)助客戶快速進(jìn)入車用電子市場(chǎng)。除了產(chǎn)品質(zhì)量驗(yàn)證外,CTI華測(cè)檢測(cè)并提供教育訓(xùn)練與系統(tǒng)輔導(dǎo)機(jī)制,確保整個(gè)產(chǎn)品開發(fā)過(guò)程詳實(shí)完整。

       

      ?      服務(wù)流程

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