通過(guò)構(gòu)建覆蓋戰(zhàn)略決策層、管理執(zhí)行層和業(yè)務(wù)運(yùn)營(yíng)層的全價(jià)值鏈ESG治理體系,積極實(shí)踐對(duì)ESG風(fēng)險(xiǎn)機(jī)遇的穿透式管理,賦能全產(chǎn)業(yè)鏈可持續(xù)發(fā)展。
作為中國(guó)第三方檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)的開(kāi)拓者和領(lǐng)先者,CTI華測(cè)檢測(cè)為全球客戶提供一站式檢驗(yàn)、測(cè)試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。
服務(wù)能力已全面覆蓋到紡織服裝及鞋包、嬰童玩具及家居生活、電子電器、醫(yī)學(xué)健康、食品及農(nóng)產(chǎn)品……等行業(yè)的供應(yīng)鏈上下游。
全面保障品質(zhì)與安全,推動(dòng)合規(guī)與創(chuàng)新,彰顯品牌競(jìng)爭(zhēng)力,實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量、更健康、更安全、更綠色的可持續(xù)發(fā)展。
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CTI華測(cè)檢測(cè)提供完整的芯片產(chǎn)品老化壽命試驗(yàn)項(xiàng)目,包含技術(shù)整合咨詢、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)規(guī)劃、硬件設(shè)計(jì)制作、可靠性試驗(yàn)、壽命預(yù)估等一站式服務(wù),協(xié)助客戶通過(guò)JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國(guó)際試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
半導(dǎo)體產(chǎn)品是電子產(chǎn)業(yè)的核心,而其可靠度試驗(yàn)的關(guān)鍵項(xiàng)目在針對(duì)芯片老化壽命,實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目最普遍是以JEDEC 47或MIL-STD 883為基礎(chǔ)進(jìn)行。根據(jù)JEDEC 47的建議,樣品的取得是必須三個(gè)非連續(xù)生產(chǎn)批次,以模擬生產(chǎn)的穩(wěn)定度,并可參考Family概念適度減少實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目與樣品數(shù)。
多數(shù)的老化壽命試驗(yàn),必須透過(guò)老化板作為測(cè)試機(jī)臺(tái)與芯片的接口。老化板是整個(gè)試驗(yàn)的核心,必須確保其穩(wěn)定性,避免衍生額外問(wèn)題。
? 芯片老化壽命試驗(yàn)
1.檢測(cè)項(xiàng)目
我們提供的測(cè)試項(xiàng)目一共分為3小點(diǎn)
1).高/低溫壽命試驗(yàn)
芯片透過(guò)高/低溫壽命試驗(yàn),以仿真在不同溫度下的加速老化狀態(tài),常用的加速因子有電壓、電流、溫度與濕度等項(xiàng)目。高低溫壽命試驗(yàn)的溫度規(guī)格是參考芯片的結(jié)溫(Tj,Junction Temperature),高溫一般消費(fèi)型與工規(guī)產(chǎn)品使用125℃,低溫則使用50℃。壽命試驗(yàn)的測(cè)試時(shí)間以1000小時(shí)為基礎(chǔ),實(shí)際的測(cè)試時(shí)間必須根據(jù)客戶產(chǎn)品保固期,使用壽命公式進(jìn)行推估。壽命試驗(yàn)屬于動(dòng)態(tài)試驗(yàn),除了上述的加速因子外,通常會(huì)輸入特定的程序,在動(dòng)態(tài)的環(huán)境中確保芯片無(wú)任何的異常超標(biāo)現(xiàn)象,以更貼近客戶使用的環(huán)境。下圖為老化測(cè)試設(shè)備的架構(gòu)圖。
2).早夭失效率試驗(yàn)
早夭失效率的試驗(yàn)?zāi)康尼槍?duì)特定或特殊產(chǎn)品,例如車用產(chǎn)品,進(jìn)行一個(gè)放大量的觀察。早夭失效率試驗(yàn)的另一個(gè)重要目的在針對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行出貨后的使用壽命進(jìn)行估算,以確保產(chǎn)品穩(wěn)定度以及需要準(zhǔn)備多少的備品作為后續(xù)RMA之用。實(shí)驗(yàn)的條件與實(shí)際壽命試驗(yàn)相同,但測(cè)試時(shí)間較短,且測(cè)試后無(wú)異常之產(chǎn)品可以出貨。
3).高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)
4).非揮發(fā)性內(nèi)存壽命試驗(yàn)
5).老化板硬件設(shè)計(jì)與制作
老化板的設(shè)計(jì)制作是整個(gè)壽命試驗(yàn)的關(guān)鍵。不同的產(chǎn)品類別與應(yīng)用,衍生的頻率、傳輸速度、訊號(hào)完整度、發(fā)熱現(xiàn)象、阻抗匹配(Impedance)等,在老化板的設(shè)計(jì)、材料選擇、結(jié)構(gòu)等考慮上相對(duì)復(fù)雜。蔚思博檢測(cè)是目前唯一可以提供老化板設(shè)計(jì)制作一條龍服務(wù)的公司,在考慮成本下,根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格可選擇適當(dāng)之萬(wàn)用板(Universal Board),制作小板DUT Card解決,或者根據(jù)成本考慮設(shè)計(jì)專板等。此外,華測(cè)蔚思博檢測(cè)也是唯一一家能夠提供RF硬件設(shè)計(jì)與試驗(yàn)的第三方實(shí)驗(yàn)室。
2.樣品水平
可靠度壽命試驗(yàn)的抽樣方式采取最低允收水平LTPD(Lot Tolerance Percent Defective),信心水平(Confidence Level)一般使用90%。樣品數(shù)的選擇與信心水平均影響到壽命的預(yù)估值,必須非常注意。
? 服務(wù)優(yōu)勢(shì)
CTI華測(cè)檢測(cè)在芯片壽命試驗(yàn),擁有在半導(dǎo)體制程與應(yīng)用領(lǐng)域具有多年經(jīng)驗(yàn)的專業(yè)人員,可根據(jù)客戶需求提供定制化服務(wù)。
目前已在上海張江、上海金橋、上海浦江、合肥、中國(guó)臺(tái)灣新竹設(shè)立五大半導(dǎo)體測(cè)試及分析實(shí)驗(yàn)室,實(shí)驗(yàn)室總面積1萬(wàn)多平方米,搭建了完整的檢測(cè)平臺(tái)服務(wù),具備CNAS、ISO9001、ISO17025、ISO27001、ANSI/ESD S20.20等資質(zhì)。
? 服務(wù)流程