在汽車電子領(lǐng)域，可靠性和安全性是永恒的話題。AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)作為汽車電子組件的重要質(zhì)量保證，其對分立器件的間隙工作壽命（IOL）測試尤為關(guān)鍵。

　　AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)包含了分立半導(dǎo)體元件（如晶體管，二極管等）最低應(yīng)力試驗要求的定義和試驗條件，試驗項目主要參考了軍用級，工業(yè)級和車用級的標(biāo)準(zhǔn)，其中Group A加速環(huán)境應(yīng)力試驗的間隙工作壽命（IOL）就參考了軍用級標(biāo)準(zhǔn)，參考MIL-STD-750半導(dǎo)半導(dǎo)體器件的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境測試方法Method 1037進(jìn)行。

　　PART 1、試驗?zāi)康?/span>

　　確定半導(dǎo)體器件在特定條件下是否符合規(guī)定的周期數(shù)，在器件反復(fù)開啟和關(guān)閉的條件下，它加速了器件的芯片和安裝面之間的所有鍵合和接口的應(yīng)力，因此較適合用于管殼安裝類型（例如螺柱、法蘭和圓盤）器件。

　　PART 2、試驗條件

　　在初始預(yù)熱周期后處于穩(wěn)定狀態(tài)時，一個周期應(yīng)包括一個“開啟”階段，即當(dāng)器件突然而非逐漸接通電源直到?Tj最低達(dá)到100℃（不超過器件的最大額定結(jié)溫），緊接著為一個“關(guān)閉”階段，即當(dāng)電源突然斷開時，通過冷卻管殼達(dá)到變化的?Tj溫度，輔助（強(qiáng)制）冷卻只允許在關(guān)閉階段進(jìn)行。如?Tj不能達(dá)到100℃，可進(jìn)行功率溫度循環(huán)（PTC）試驗代替。

　　所有器件都應(yīng)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)要求的時間或循環(huán)次數(shù)，?Tj≥100°C時進(jìn)行1000小時或15000個循環(huán)，?Tj≥125°C時進(jìn)行500小時或7500個循環(huán)，最終測試時間或循環(huán)數(shù)依據(jù)下列公式進(jìn)行計算：

　　示例1：一個能夠開2分鐘/關(guān)4分鐘的封裝，在?Tj≥100℃時需要10000次循環(huán)[60000/(2+4)]，或在?Tj≥125℃時需要5000次循環(huán)。

　　示例2：一個能夠開1分鐘/關(guān)1分鐘的封裝，在?Tj≥100℃時需要15000次循環(huán)，或在?Tj≥125℃時需要7500次循環(huán)。

　　X=器件從環(huán)境溫度達(dá)到規(guī)定的結(jié)溫?Tj所需的最短時間。

　　Y=器件從規(guī)定的結(jié)溫?Tj冷卻到環(huán)境溫度所需的最短時間。

　　測試板上的儀器、零件安裝和散熱方式將影響每個封裝的x和y。

　　PART 3、電性能參數(shù)選擇

　　間隙工作壽命（IOL）試驗前后需測電性能參數(shù)，以下是最小檢測的參數(shù)要求，所有器件性能參數(shù)必須符合用戶零件規(guī)范的要求。

　　晶體管

　　二極管

　　變?nèi)莨?/span>

　　PART 4、失效判定

　　試驗后電性能參數(shù)不能保持在初始讀數(shù)的±20%以內(nèi)為失效；

　　對于RDS（ON）最大≤2.5 mOhm的器件，RDS（ON）的變化允許值為≤0.5 mOhm；

　　允許的泄漏電流不超過測試前初始值的5倍，對MOSFET而言，對于0h測試值<10nA(IGSS和IDSS)，測試后為50nA；

　　器件外觀不可以出現(xiàn)任何物理損壞。

　　AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)的IOL測試是汽車電子組件質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)。通過這一測試，我們能夠確保分立器件在嚴(yán)苛的汽車環(huán)境中的可靠性，為每一位駕駛者提供更加安全、可靠的駕駛體驗。

　　CTI華測檢測聚焦"芯”業(yè)務(wù)、拓展“芯”能力，可為客戶提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個系列的測試認(rèn)證服務(wù)。