隨著新能源汽車市場的不斷擴(kuò)大和技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，汽車芯片的需求和重要性將持續(xù)增加。
在新能源汽車中，汽車芯片扮演著關(guān)鍵的角色。它們負(fù)責(zé)控制電池的充放電過程，監(jiān)測電池狀態(tài)和溫度，確保電池的安全性和性能。同時(shí)，汽車芯片還控制電動(dòng)機(jī)的轉(zhuǎn)速和功率輸出，實(shí)現(xiàn)車輛的動(dòng)力控制和能量轉(zhuǎn)換。此外，汽車芯片還負(fù)責(zé)管理車輛的充電系統(tǒng)、能量回收系統(tǒng)以及各種安全和駕駛輔助功能。
AEC-Q100
AEC-Q100是針對車載應(yīng)用芯片產(chǎn)品設(shè)計(jì)的一套應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)。該規(guī)范的主要目的是通過對芯片進(jìn)行嚴(yán)格的可靠性驗(yàn)證，預(yù)防可能發(fā)生的各種狀況或潛在的失效狀態(tài)。
AEC-Q100規(guī)范于1994年6月首次發(fā)布，經(jīng)過十多年的發(fā)展，已成為汽車電子系統(tǒng)中集成電路評價(jià)的通用標(biāo)準(zhǔn)。對于車用芯片來說，AEC-Q100是最常見的應(yīng)力測試認(rèn)證規(guī)范。
該規(guī)范要求對每個(gè)芯片進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的測試，以確保其功能性和可靠性。通過進(jìn)行各種應(yīng)力測試，如溫度循環(huán)測試、濕熱循環(huán)測試、振動(dòng)測試等，可以驗(yàn)證芯片在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性。這些測試有助于提升產(chǎn)品的可靠性與質(zhì)量，降低芯片在使用過程中出現(xiàn)故障或失效的風(fēng)險(xiǎn)。
AEC-Q100關(guān)鍵測試類別
1、加速環(huán)境應(yīng)力測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 預(yù)處理 | PC | J-STD-020 JESD22-A113 |
| 有偏溫濕度或有偏高加速應(yīng)力測試 | THB/HAST | JESD22-A101 JESD22-A110 |
| 高壓或無偏高加速應(yīng)力測試 或無偏溫濕度測試 |
AC/UHST /TH | JESD22-A102 JESD22-A118 JESD22-A101 |
| 溫度循環(huán) | TC | JESD22-A104 |
| 功率負(fù)載溫度循環(huán) | PTC | JESD22-A105 |
| 高溫儲(chǔ)存壽命測試 | HTSL | JESD22-A103 |
2、加速壽命模擬測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 高溫工作壽命 | HTOL | JESD22-A108 |
| 早期壽命失效率 | ELFR | AEC Q100-008 |
| 非易失性存儲(chǔ)器耐久 | EDR | AEC Q100-005 |
3、封裝組合完整性測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 綁線剪切 | WBS | AEC Q100-001 |
| 綁線拉力 | WBP | MIL-STD 883 Method2011 |
| 可焊性 | SD | J-STD-002 |
| 物理尺寸 | PD | JESD22-B100 |
| JESD22-B108 | ||
| 錫球剪切 | SBS | AEC Q100-010 |
| 引腳完整性 | LI | JESD22-B105 |
| Bump剪切 | BST | JESD22-B117 |
4、芯片晶元可靠度測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 電遷移 | EM | / |
| 經(jīng)時(shí)介質(zhì)擊穿 | TDDB | / |
| 熱載流子注入 | HCI | / |
| 偏壓溫度不穩(wěn)定性 | BTI | / |
| 應(yīng)力遷移 | SM | / |
5、電氣特性確認(rèn)測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 應(yīng)力測試前后功能參數(shù)測試 | TEST | 規(guī)格書 |
| 靜電放電（HBM） | HBM | AEC-Q100-002 |
| 靜電放電（CDM） | CDM | AEC-Q100-011 |
| 閂鎖效應(yīng) | LU | AEC-Q100-004 |
| 電分配 | ED | AEC-Q100-009 |
| 故障等級 | FG | AEC-Q100-007 |
| 特性描述 | CHAR | AEC-Q003 |
| 電磁兼容 | EMC | SAE JI752/3 |
| 短路特性描述 | SC | AEC-Q100-012 |
| 軟誤差率 | SER | JESD89-1 |
| JESD89-2 | ||
| JESD89-3 | ||
| 無鉛（Pb） | LF | AEC-Q005 |
6、缺陷篩選測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 過程平均測試 | PAT | AEC-Q001 |
| 統(tǒng)計(jì)良率分析 | SBA | AEC-Q002 |
7、腔體封裝完整性測試
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 過程平均測試 | PAT | AEC-Q001 |
| 統(tǒng)計(jì)良率分析 | SBA | AEC-Q002 |
| 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
| 機(jī)械沖擊 | MS | JESD22-B104 |
| 變頻振動(dòng) | VFV | JESD22-B103 |
| 恒加速度 | CA | MIL-STD-883 Method2001 |
| 粗細(xì)氣漏測試 | GFL | MIL-STD-883 Method1014 |
| 包裝跌落 | DROP | / |
| 蓋板扭力測試 | LT | MIL-STD-883 Method2024 |
| 芯片剪切 | DS | MIL-STD-883 Method2019 |
| 內(nèi)部水汽含量測試 | IWV | MIL-STD-883 Method1018 |
AEC-Q100的應(yīng)用可以有效提高車載應(yīng)用集成電路產(chǎn)品的可靠性，并確保其能夠在嚴(yán)苛的汽車環(huán)境中正常運(yùn)行。對于汽車行業(yè)來說，遵循AEC-Q100規(guī)范是保證汽車電子系統(tǒng)質(zhì)量和安全性的重要措施之一。
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