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      新聞資訊

      技術干貨|AEC-Q100:汽車電子芯片的可靠性測試與認證

      發(fā)布時間:2024-07-11 瀏覽次數:3915

      隨著新能源汽車市場的不斷擴大和技術的進一步發(fā)展,汽車芯片的需求和重要性將持續(xù)增加。


        在新能源汽車中,汽車芯片扮演著關鍵的角色。它們負責控制電池的充放電過程,監(jiān)測電池狀態(tài)和溫度,確保電池的安全性和性能。同時,汽車芯片還控制電動機的轉速和功率輸出,實現車輛的動力控制和能量轉換。此外,汽車芯片還負責管理車輛的充電系統(tǒng)、能量回收系統(tǒng)以及各種安全和駕駛輔助功能。


         


        AEC-Q100


        AEC-Q100是針對車載應用芯片產品設計的一套應力測試標準。該規(guī)范的主要目的是通過對芯片進行嚴格的可靠性驗證,預防可能發(fā)生的各種狀況或潛在的失效狀態(tài)。


        AEC-Q100規(guī)范于1994年6月首次發(fā)布,經過十多年的發(fā)展,已成為汽車電子系統(tǒng)中集成電路評價的通用標準。對于車用芯片來說,AEC-Q100是最常見的應力測試認證規(guī)范。


        該規(guī)范要求對每個芯片進行標準規(guī)范的測試,以確保其功能性和可靠性。通過進行各種應力測試,如溫度循環(huán)測試、濕熱循環(huán)測試、振動測試等,可以驗證芯片在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性。這些測試有助于提升產品的可靠性與質量,降低芯片在使用過程中出現故障或失效的風險。



        AEC-Q100關鍵測試類別


        1、加速環(huán)境應力測試

      測試項目 縮寫 檢測方法
      預處理 PC J-STD-020
      JESD22-A113
      有偏溫濕度或有偏高加速應力測試 THB/HAST JESD22-A101
      JESD22-A110
      高壓或無偏高加速應力測試
      或無偏溫濕度測試
      AC/UHST /TH JESD22-A102
      JESD22-A118
      JESD22-A101
      溫度 循環(huán) TC JESD22-A104
      功率負載溫度循環(huán) PTC JESD22-A105
      高溫儲存壽命測試 HTSL JESD22-A103

       

        2、加速壽命模擬測試

       

      測試項目 縮寫 檢測方法
      高溫工作壽命 HTOL JESD22-A108
      早期壽命失效率 ELFR AEC Q100-008
      非易失性存儲器耐久 EDR AEC Q100-005


        3、封裝組合完整性測試

       

      測試項目 縮寫 檢測方法
      綁線剪切 WBS AEC Q100-001
      綁線拉力 WBP MIL-STD 883 Method2011
      可焊性 SD J-STD-002
      物理尺寸 PD JESD22-B100
      JESD22-B108
      錫球剪切 SBS AEC Q100-010
      引腳完整性 LI JESD22-B105
      Bump剪切 BST JESD22-B117


        4、芯片晶元可靠度測試

       

      測試項目 縮寫 檢測方法
      電遷移 EM /
      經時介質擊穿 TDDB /
      熱載流子注入 HCI /
      偏壓溫度不穩(wěn)定性 BTI /
      應力遷移 SM /


        5、電氣特性確認測試
         

      測試項目 縮寫 檢測方法
      應力測試前后功能參數測試 TEST 規(guī)格書
      靜電放電(HBM) HBM AEC-Q100-002
      靜電放電(CDM) CDM AEC-Q100-011
      閂鎖效應 LU AEC-Q100-004
      電分配 ED AEC-Q100-009
      故障等級 FG AEC-Q100-007
      特性描述 CHAR AEC-Q003
      電磁兼容 EMC SAE JI752/3
      短路特性描述 SC AEC-Q100-012
      軟誤差率 SER JESD89-1
      JESD89-2
      JESD89-3
      無鉛(Pb) LF AEC-Q005


        6、缺陷篩選測試

       

      測試項目 縮寫 檢測方法
      過程平均測試 PAT AEC-Q001
      統(tǒng)計良率分析 SBA AEC-Q002

       


        7、腔體封裝完整性測試
         

      測試項目 縮寫 檢測方法
      過程平均測試 PAT AEC-Q001
      統(tǒng)計良率分析 SBA AEC-Q002
      測試項目 縮寫 檢測方法
      機械沖擊 MS JESD22-B104
      變頻振動 VFV JESD22-B103
      恒加速度 CA MIL-STD-883 Method2001
      粗細氣漏測試 GFL MIL-STD-883 Method1014
      包裝跌落 DROP /
      蓋板扭力測試 LT MIL-STD-883 Method2024
      芯片剪切 DS MIL-STD-883 Method2019
      內部水汽含量測試 IWV MIL-STD-883 Method1018


        AEC-Q100的應用可以有效提高車載應用集成電路產品的可靠性,并確保其能夠在嚴苛的汽車環(huán)境中正常運行。對于汽車行業(yè)來說,遵循AEC-Q100規(guī)范是保證汽車電子系統(tǒng)質量和安全性的重要措施之一。


        CTI華測檢測擁有專業(yè)的技術團隊,可以根據客戶的產品測試需求,從方案制定、測試硬件設計、硬件制作、測試及驗證等全方位服務,可以為您提供一站式解決方案。CTI華測檢測還可以提供全面的芯片性能檢測、可靠性驗證、失效分析等服務。

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