ELFR 測試，全稱為 Early Life Failure Rate（早期壽命失效率）測試，是一種通過高溫高壓加速測試，快速識別和排除早期失效器件的方法。其目的在于評估產(chǎn)品在早期階段的失效率，有效降低產(chǎn)品的初始失效風(fēng)險，從而提升產(chǎn)品的可靠性。

芯片的失效率在其生命周期內(nèi)呈現(xiàn)出近似浴盆曲線的變化趨勢，分為早期失效期、偶然失效期和耗損失效期。ELFR 測試主要針對早期失效期，在此階段，產(chǎn)品失效率較高，且會隨著時間的推移而迅速下降。通過 ELFR 測試，能夠在產(chǎn)品投入市場前發(fā)現(xiàn)并解決潛在問題，避免早期失效帶來的負(fù)面影響，如客戶投訴、召回和品牌損害。

測試方法

樣品準(zhǔn)備

選取一定數(shù)量的器件作為測試樣品，這些樣品應(yīng)代表生產(chǎn)批次的典型特性?？筛鶕?jù)FPM要求選擇對應(yīng)測試數(shù)量，如下Table B 為JESD47在特定置信度下對樣品最小數(shù)量需求說明。

測試環(huán)境設(shè)置

將樣品放置在特定的高溫環(huán)境中，通常溫度會設(shè)置在比器件正常工作溫度高一定程度的水平。例如，對于一些集成電路，可能會在 125℃或更高的溫度下進(jìn)行測試。

施加工作條件

在高溫環(huán)境下，對器件施加穩(wěn)定的工作電壓、電流、工作信號等條件，使其處于工作狀態(tài)。

持續(xù)測試時間

通常會持續(xù)48≦t≦168 hrs。

監(jiān)測與記錄

在測試過程中，持續(xù)監(jiān)測器件的電性能參數(shù)，并記錄這些參數(shù)隨時間的變化情況。

結(jié)果評估

1.在高溫測試結(jié)束48小時之內(nèi)進(jìn)行電性能測試。

2.統(tǒng)計出現(xiàn)早期失效的樣品數(shù)量，并計算產(chǎn)品的早期失效率。早期失效率的計算方法與公式參考：JESD74。

3.根據(jù)測試結(jié)果，判斷產(chǎn)品是否符合早期失效率的要求。如果產(chǎn)品的早期失效率超過了規(guī)定的指標(biāo)，則產(chǎn)品不合格；如果產(chǎn)品的早期失效率在規(guī)定的指標(biāo)范圍內(nèi)，則產(chǎn)品合格。

標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范

為了確保 ELFR 測試的準(zhǔn)確性和可靠性，美國電子工業(yè)協(xié)會（JEDEC）制定了一系列關(guān)于集成電路（IC）封裝和封裝材料的標(biāo)準(zhǔn)，JESD22-A108標(biāo)準(zhǔn)用于規(guī)范 ELFR 的范圍與實驗方法。同時，國際汽車電子協(xié)會（Automotive Electronics Council，AEC）制定的 AEC-Q100-008 等標(biāo)準(zhǔn)對汽車電子芯片的可靠性測試進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定。

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