AEC-Q101認(rèn)證包含了分立半導(dǎo)體元件最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件，目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。

　　根據(jù)AEC-Q101E-2021新版規(guī)范，認(rèn)證測(cè)試通用項(xiàng)目大大小小算起來共有37項(xiàng)，但并非所有的測(cè)試項(xiàng)目都需要測(cè)試，需要依據(jù)不同的器件類型，封裝形式，安裝方式等等來選擇要進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目。

　　AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)項(xiàng)目分為5個(gè)大組，以某型號(hào)SOT23封裝的MOSFET為例，AEC-Q101認(rèn)證應(yīng)選擇哪些測(cè)試項(xiàng)目和條件，以及不選擇此項(xiàng)目的原因說明，以下是按組介紹需要測(cè)試項(xiàng)目的清單。

　　Group A 加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)

　　Group A加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)共有10個(gè)項(xiàng)目，AC高壓和H3TRB高溫高濕反偏做為可選項(xiàng)可不用進(jìn)行，PTC功率溫度循環(huán)在IOL間隙壽命不能滿足才做，TCDT溫循分層試驗(yàn)和TCHT溫循熱試驗(yàn)不適用在銅線連接的器件上執(zhí)行測(cè)試。

　　Group B 加速壽命模擬試驗(yàn)

　　Group B加速壽命模擬試驗(yàn)共有4個(gè)項(xiàng)目，ACBV交流阻斷電壓僅適于晶閘管，SSOP穩(wěn)態(tài)運(yùn)行僅適于TVS二極管。

　　Group C 封裝完整性試驗(yàn)

　　Group C封裝完整性試驗(yàn)15個(gè)項(xiàng)目，TS端子強(qiáng)度適用于通孔引線零件的引線完整性，RTS耐溶劑性對(duì)于激光蝕刻或無標(biāo)記器件不用進(jìn)行。CA恒定加速，VVF變頻振動(dòng)，MS機(jī)械沖擊，HER氣密性這四項(xiàng)適用于氣密封裝的零件。

　　Group D 模具制造可靠性試驗(yàn)

　　Group E 電氣驗(yàn)證試驗(yàn)

　　Group E電氣驗(yàn)證試驗(yàn)6個(gè)項(xiàng)目。UI鉗位感應(yīng)開關(guān)S僅限功率MOS半導(dǎo)體和內(nèi)部箝制IGBT，SC短路特性僅適用于智能功率零件。

　　CTI華測(cè)檢測(cè)聚焦"芯”業(yè)務(wù)、拓展“芯”能力，可為客戶提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個(gè)系列的測(cè)試認(rèn)證服務(wù)。