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    1. 我們的服務(wù)

      作為中國(guó)第三方檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)的開(kāi)拓者和領(lǐng)先者,CTI華測(cè)檢測(cè)為全球客戶提供一站式檢驗(yàn)、測(cè)試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。

      行業(yè)解決方案

      服務(wù)能力已全面覆蓋到紡織服裝及鞋包、嬰童玩具及家居生活、電子電器、醫(yī)學(xué)健康、食品及農(nóng)產(chǎn)品……等行業(yè)的供應(yīng)鏈上下游。

      特色服務(wù)

      全面保障品質(zhì)與安全,推動(dòng)合規(guī)與創(chuàng)新,彰顯品牌競(jìng)爭(zhēng)力,實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量、更健康、更安全、更綠色的可持續(xù)發(fā)展。

      新聞資訊

      CTI華測(cè)檢測(cè)定制化DPA方案|助力企業(yè)把關(guān)芯片質(zhì)量

      發(fā)布時(shí)間:2024-01-25 瀏覽次數(shù):1681

        市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈,產(chǎn)品質(zhì)量是企業(yè)獲取競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的重要因素之一。芯片作為產(chǎn)品的“大腦”、設(shè)備的核心,芯片質(zhì)量的好壞將對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量、性能產(chǎn)生至關(guān)重要的影響。CTI華測(cè)檢測(cè)針對(duì)不同客戶不同產(chǎn)品提供定制化DPA方案,助力企業(yè)把關(guān)芯片質(zhì)量。

       

       

        而目前市場(chǎng)上有各類假冒或翻新芯片:比如沒(méi)有功能的空白芯片;或是將質(zhì)量不良的次級(jí)品,如回收廢棄的芯片并移除商標(biāo)、重新包裝出售;或是將淘汰產(chǎn)品包裝為優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品出售等。這類芯片無(wú)論是在性能上,還是在可靠度和耐久度上都較差。因此,為規(guī)避潛在風(fēng)險(xiǎn),一些企業(yè)購(gòu)買(mǎi)X光機(jī),希望提高自身檢測(cè)能力。但X光機(jī)只能檢查沒(méi)有功能的空芯片,而對(duì)于品質(zhì)不良的次級(jí)品沒(méi)有檢出能力,此類檢測(cè)必須要搭配其他專業(yè)方式,通過(guò)驗(yàn)證元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量來(lái)驗(yàn)傷,即DPA。

       

        DPA是什么?

        破壞性物理分析(Destructive Physical Analysis)簡(jiǎn)稱為DPA,是為了驗(yàn)證元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量是否滿足預(yù)定用途或有關(guān)規(guī)范的要求。

        確保產(chǎn)品在出貨前或是可靠度驗(yàn)證后,結(jié)構(gòu)質(zhì)量上有無(wú)異常;

        按元器件的生產(chǎn)批次進(jìn)行抽樣檢測(cè);

        對(duì)元器件樣品進(jìn)行非破壞性分析和破壞性分析的一系列檢測(cè)。

       

        DPA的目的是什么?

        DPA分析技術(shù)可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的材料、工藝等方面的缺陷,這些缺陷最終導(dǎo)致元器件失效的時(shí)間是不確定的,多數(shù)為早期失效,但所引發(fā)的后果是嚴(yán)重的。

        ?糾出假芯片;

        ?以預(yù)防失效為目的,防止有明顯或潛在缺陷的元器件上機(jī)使用;

        ?評(píng)價(jià)和驗(yàn)證供貨方元器件的質(zhì)量;

        ?確定元器件在設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中存在的偏差和工藝缺陷。

        ?電子元器件進(jìn)行DPA的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)

        ?器件選型,選擇不同供貨商,同類產(chǎn)品橫向比對(duì);

        ?在訂貨合同中提出DPA要求,即生產(chǎn)廠家供貨時(shí)必須提供DPA合格的報(bào)告;

        ?元器件到貨后,上機(jī)前進(jìn)行來(lái)料DPA確認(rèn)(例行抽檢);

        ?器件可靠性風(fēng)險(xiǎn)提前識(shí)別,可靠性試驗(yàn)之后進(jìn)行DPA確認(rèn)。

       

        DPA的步驟流程

       

        1、外觀觀察和測(cè)量是否有差異或損壞缺陷異常

        鍵合與粘貼打線對(duì)齊不良及短路或開(kāi)路_ X-光機(jī)

        封裝分層及孔洞檢查_(kāi)超聲波掃描

        樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)/尺寸剖析

        樣品內(nèi)部缺陷剖析

        樣品成分定性定量分析

       

        2、破壞性分析和測(cè)量開(kāi)蓋目檢

        真假芯片確認(rèn)

        鍵合類型/芯片尺寸/劃片道觀察

        芯片標(biāo)記/芯片外貌

        鍵合球球徑/鍵合絲直徑

       

        3、破壞性剖面分析和量測(cè)

        測(cè)量芯片厚度

        芯片劃片尺寸測(cè)量

        銀膠爬升高度

        鍵合球工藝觀察鍵合線材質(zhì)確認(rèn)

       

        定制化DPA方案

        各種封裝結(jié)構(gòu)不同,因此單一DPA方案不完全適用所有型式的封裝,CTI華測(cè)檢測(cè)針對(duì)不同客戶不同產(chǎn)品提供定制化DPA方案,助力企業(yè)把關(guān)芯片質(zhì)量。

        我們整理了幾種主要的封裝類型,運(yùn)用3D-X-ray、金相切片、迭層芯片分離、芯片內(nèi)部檢查等關(guān)鍵技術(shù),提出了一系列適用性強(qiáng)、效率高的破壞性物理分析方案,包括WLCSP WB-BGAWB-BGAWB-Leadframe作為客戶的選擇。其他還有更多的先進(jìn)封裝DPA方案,歡迎咨詢。

        1、WB-Leadframe DPA Flow

       

        2、WB-BGA DPA Flow

       

        3、FC-BGA DPA Flow

       

        4、MOSFET DPA Flow

       

        5、WLCSP DPA Flow

       

        6、晶振DPA Flow

       

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