12月11-12日，“上海集成電路2024年度產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇暨第三十屆集成電路設(shè)計業(yè)展覽會”（ICCAD-Expo 2024）在上海世博展覽館圓滿落幕。大會以“智慧上海，芯動世界”為主題，近萬名集成電路業(yè)界精英共聚一堂，共同探討新形勢下的集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展未來圖景。
作為專業(yè)的第三方半導(dǎo)體檢測機構(gòu)，CTI華測檢測亮相本次展會，全方位展示芯片測試、失效分析、可靠性驗證等領(lǐng)域的先進技術(shù)與解決方案。
展會期間，CTI華測檢測的專業(yè)技術(shù)團隊始終堅守崗位，與前來咨詢的觀眾進行了深入而細致的交流。無論是對復(fù)雜檢測原理的闡釋，還是針對具體項目需求提供定制化解決方案，團隊成員都以其扎實的專業(yè)知識和豐富的實踐經(jīng)驗，給予了詳盡的解答和專業(yè)的建議。
展會現(xiàn)場
此外，CTI華測檢測鄭宜明先生在大會發(fā)表“AI時代大挑戰(zhàn)：高功耗芯片老化與ESD驗證瓶頸破解之思”技術(shù)演講。深入分析當(dāng)前高功耗芯片在可靠性驗證時面臨的難題，并分享CTI華測檢測應(yīng)對高功耗芯片老化和ESD驗證瓶頸時提供給的高效方案。
檢測認證作為芯片設(shè)計產(chǎn)業(yè)中不可或缺的一部分，CTI華測檢測將始終堅持不斷完善我們的專業(yè)團隊與先進設(shè)備，以我們的專業(yè)能力與更多的半導(dǎo)體行業(yè)企業(yè)一起共同提升中國芯片設(shè)計業(yè)的核心競爭力。
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