伴隨著國(guó)內(nèi)科技的不斷發(fā)展，我們對(duì)芯片功能的要求也在不斷的提高，芯片內(nèi)部的晶體管也越來(lái)越多，功耗越來(lái)越高，本次華測(cè)半導(dǎo)體芯片研討會(huì)主要針對(duì)大功耗AECQ項(xiàng)目及失效分析和硬件測(cè)試方面和各位來(lái)賓進(jìn)行深入探討。在此，我們誠(chéng)邀您出席，衷心感謝您的支持與指導(dǎo)。
講師介紹
鄭宜明Jacky
專精于動(dòng)態(tài)失效分析、失效分析、靜電防護(hù)能力測(cè)試、可靠性實(shí)驗(yàn)等驗(yàn)證領(lǐng)域，擁有二十多年驗(yàn)證與實(shí)驗(yàn)室建置管理經(jīng)驗(yàn)及二十五半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)經(jīng)驗(yàn)
陳志榮Phil Chen
半導(dǎo)體從業(yè)26年
專長(zhǎng):半導(dǎo)體制程研發(fā)/材料分析/失效分析/產(chǎn)品良率提升
黃智偉Howard
近20年電子產(chǎn)品/芯片半導(dǎo)體可靠性驗(yàn)證分析技術(shù)工程工作
多家終端車廠及Tier one供貨商AEC-Q系列課程講師
多家國(guó)內(nèi)3rd Party及OSAT可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室管理管理工作
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