服務(wù)背景

電子設(shè)備主要是由電子元器件組成的，因此電子元器件的可靠性直接影響電子設(shè)備可靠性。電子元器件也是屬于比較“脆弱”的一種產(chǎn)品，溫度、濕度、振動、鹽霧等各種環(huán)境應(yīng)力都可能會損傷電子元器件，造成電子設(shè)備的故障失效。根據(jù)大量失效數(shù)據(jù)分析，濕氣引起電子元器件的失效比例占20%左右。
HAST（ Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）： 一般稱為高加速溫濕度應(yīng)力試驗或是高加速應(yīng)力試驗。HAST測試通過施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力，水汽通過封裝材料或管腳滲透，用來評價元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性。

服務(wù)內(nèi)容

一、適用測試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗C：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

JESD22-A110高加速溫濕度應(yīng)力試驗

JESD22-A118加速防潮-無偏置高加速溫濕度應(yīng)力試驗

AEC-Q汽車零部件車規(guī)級標(biāo)準(zhǔn)

二、適用產(chǎn)品范圍

集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機電元件、傳感器等。

三、常規(guī)樣品要求

請聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或客服，以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

四、測試方法

U-HAST：無偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗，是測試電鍍和直接化學(xué)腐蝕的首選方法.

B-HAST：偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗，與溫濕度偏壓試驗（THB）對產(chǎn)品的破壞機理一致，是THB的加速測試，測試時器件必須以最小的功耗運行。

*注：120℃/85%RH條件僅標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.40/IEC 60068-66適用

CTI解決方案

CTI提供全面的可靠性測試一站式解決方案，包括。

  ● 環(huán)境測試

  ● 可靠性測試

  ● 可靠性設(shè)計

  ● 可靠性測分析

  ● 產(chǎn)品評估

  ● 可靠性培訓(xùn)及咨詢

我們的優(yōu)勢

CTI具有專業(yè)資質(zhì)、經(jīng)驗豐富的技術(shù)專家團隊，為您提供專業(yè)咨詢和服務(wù)。在電子元器件的無損檢測、破壞性物理分析、性能檢測、失效分析和可靠性驗證方面有豐富的經(jīng)驗，與眾多電子及微電子企業(yè)有長期深入的合作，可以提供優(yōu)質(zhì)、高效的技術(shù)服務(wù)?？梢愿鶕?jù)客戶的技術(shù)需求，定制推薦合理的測試方案。

服務(wù)流程