作為中國第三方檢測與認(rèn)證服務(wù)的開拓者和領(lǐng)先者,CTI華測檢測為全球客戶提供一站式檢驗(yàn)、測試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。
服務(wù)能力已全面覆蓋到紡織服裝及鞋包、嬰童玩具及家居生活、電子電器、醫(yī)學(xué)健康、食品及農(nóng)產(chǎn)品……等行業(yè)的供應(yīng)鏈上下游。
全面保障品質(zhì)與安全,推動合規(guī)與創(chuàng)新,彰顯品牌競爭力,實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量、更健康、更安全、更綠色的可持續(xù)發(fā)展。
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? 什么是閂鎖測試
所謂的閂鎖效應(yīng)Latch-up,是指瞬間電流被鎖定或者放大,而造成芯片在電源與對地之間造成短路,而因?yàn)榇箅娏鲹p傷芯片。由于目前半導(dǎo)體電路設(shè)計(jì)密度越來越高,電壓或電流的瞬間變化對于芯片的損傷也越趨嚴(yán)重。此外,目前半導(dǎo)體業(yè)界部分認(rèn)為客退品中經(jīng)常出現(xiàn)的EOS(Electrical Over Stress)問題與閂鎖測試有相當(dāng)程度關(guān)聯(lián),因此此項(xiàng)測試變得非常重要。
? 測試標(biāo)準(zhǔn)
閂鎖測試主要參考JEDEC 78規(guī)范以及AEC-Q100-004之定義,其中在車用電子的測試中,定義必須使用Class II,即最高環(huán)境溫度條件(Maximum Operation Temperature),較傳統(tǒng)常溫更為嚴(yán)格。
CTI華測檢測提供完整的半導(dǎo)體產(chǎn)品芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目,協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
? 服務(wù)優(yōu)勢
? 服務(wù)流程