人體或帶電物體在向敏感的電子器件放電時(shí),會(huì)導(dǎo)致器件發(fā)生故障,嚴(yán)重影響汽車電子產(chǎn)品的正常工作,甚至導(dǎo)致其損壞,進(jìn)行車載ESD靜電測(cè)試對(duì)于確保汽車電子產(chǎn)品的可靠性和耐久性至關(guān)重要。
01、AEC-Q101要求器件進(jìn)行的兩種ESD測(cè)試
- 人體放電模式(Human-Body Model,HBM)AEC Q101-001
模擬因人體在地上走動(dòng)磨擦或其他因素,在人體上已累積了靜電,當(dāng)此人去碰觸器件引腳時(shí),人體上的靜電瞬間產(chǎn)生的電流可能造成損毀。
- 元件充電模式(Charged-Device Model,CDM)AEC Q101-005
器件因磨擦或感應(yīng)等因素而在內(nèi)部累積靜電,此帶有靜電的器件在作業(yè)過程中,其引腳碰觸到接地導(dǎo)體時(shí),內(nèi)部的靜電便會(huì)經(jīng)由接腳流出而造成放電現(xiàn)象。
02、試驗(yàn)條件
HBM和CDM模式要求分別測(cè)試30個(gè)器件,將樣本量分為三個(gè)樣品組,應(yīng)按照下圖的測(cè)試流程圖,在應(yīng)力電壓水平下對(duì)每個(gè)樣本組施加應(yīng)力,每個(gè)應(yīng)力電壓水平測(cè)試十個(gè)器件。
HBM
CDM
03、失效標(biāo)準(zhǔn)
ESD測(cè)試后,器件不符合以下任何標(biāo)準(zhǔn),則該器件將被定義為失效。
器件特定關(guān)鍵參數(shù)超過了的允許偏移值,如:
器件類型 | 參數(shù) | 最大允許偏移值 |
雙極 | ICES,ICBO和IEBO | 初始測(cè)量的10倍(10X) |
FET | IDSS和IGSS | 初始測(cè)量的10倍(10X) |
IGBT | ICES和IGES | 初始測(cè)量的10倍(10X) |
二極管 | IR | 初始測(cè)量的10倍(10X) |
器件初始和最終電氣驗(yàn)證參數(shù)不再符合用戶器件規(guī)范的要求。
04、試驗(yàn)設(shè)備
HANWA/C5000
HANWA/N5000
CTI華測(cè)檢測(cè)聚焦"芯”業(yè)務(wù)、拓展“芯”能力,可為客戶提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個(gè)系列的測(cè)試認(rèn)證服務(wù)。